I see a whole bunch of intensity based registration algorithms in the software guide, but I don&#39;t see any feature based registration. Am I missing them? The required parts would be feature extraction, feature correspondence, and then feature based transformation estimation.<br>
<br>I saw this paper:<br><a href="http://www.insight-journal.org/browse/publication/207">http://www.insight-journal.org/browse/publication/207</a><br><br>which seems to talk about using the existing 2D SIFT, etc, but can someone point me to where this lives/an example?<br>
<br clear="all">Thanks!<br><br>David<br>